货源介绍

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超声相控阵探头是一种先进的无损检测工具，能够通过电子控制实现多种扫描模式，从而适应不同的检测需求。以下是超声相控阵探头能够实现的主要扫描模式：
1. 扇形扫描（S扫描）
扇形扫描是超声相控阵探头最常用的扫描模式之一。在这种模式下，探头通过改变各阵元的激发延迟，使声束在设定的深度上按一定角度范围进行偏转，形成扇形扫查区域。这种扫描方式适用于检测焊缝、管道等结构中的缺陷，能够快速覆盖较大区域，并且可以灵活调整扫描角度。
2. 线性扫描（电子扫描）
线性扫描是另一种常见的扫描模式。探头的阵元被分成若干小组，通过延迟器依次激发各小组阵元，使声束沿探头长度方向进行扫查。这种模式适用于检测工件的表面或近表面缺陷，能够提供高分辨率的成像结果。
3. 动态深度扫描（动态深度聚焦）
动态深度扫描允许探头在不同深度上进行聚焦，从而实现对工件内部缺陷的全面检测。这种模式分为发射动态深度聚焦和接收动态深度聚焦。发射动态深度聚焦通过改变激发延迟使声束焦点在深度方向上移动；接收动态深度聚焦则在接收信号时对不同深度的回波进行重新聚焦。
4. 光栅扫描（X-Y扫描）
光栅扫描模式结合了机械移动和电子扫描。探头在被测样件上沿一个轴进行物理移动，同时在另一个轴的方向上进行电子扫查。这种模式适用于复杂形状工件的全面检测，能够提供详细的二维或三维成像。
5. 静态扫描
静态扫描模式下，探头固定在一个位置，通过改变声束的偏转角度和聚焦深度，对目标区域进行检测。这种模式适用于对特定区域进行详细检测，尤其是在需要高精度定位缺陷时。
6. B扫描显示
B扫描显示的是通过被测样件的一个垂直切片的横截面轮廓。这种模式要求探头沿被测样件的选定轴进行机械或电子扫描，能够直观地显示缺陷相对于其线性位置的深度。
7. C扫描显示
C扫描显示的是工件表面或某一特定深度的二维平面视图。这种模式通过在工件表面进行光栅扫描，生成缺陷的平面分布图，适用于检测大面积区域。
8. D扫描显示
D扫描显示的是工件内部某一特定深度的三维视图。这种模式结合了动态深度扫描和光栅扫描，能够提供缺陷的三维位置和尺寸信息。
9. S扫描显示
S扫描显示的是从一系列A扫描中导出的二维横截面视图，这些A扫描已相对于时间延迟和折射角进行了绘制。这种模式适用于生成近似锥形的横截面图像，能够直观地显示缺陷的位置和形状。
10. TFM扫描（全聚焦方法）
TFM扫描是一种先进的成像技术，通过计算所有可能的聚焦法则，生成工件内部的高分辨率三维图像。这种模式适用于复杂几何形状工件的检测，能够提供更准确的缺陷定位和尺寸测量。
通过这些多样化的扫描模式，超声相控阵探头能够满足不同工业领域和检测场景的需求，提供高效、准确的无损检测解决方案。